Silizium-Halbleitertechnologie
Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann (auth.)
Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchf?hrung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen gen?gen m?ssen, um die geforderten Strukturgr??en bis zu wenigen 100 nm gleichm??ig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, ?tzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erl?utert. Das Buch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchf?hrung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik. Zur weiteren Verdeutlichung des Stoffes wurden in der 4. Auflage Abbildungen und vor allem weitere ?bungsaufgaben erg?nzt.
"Ulrich Hilleringmann ist mit seinem (...) Buch genau dies gelungen: die komplexe und umfangreiche Materie pr?zise und doch stets verst?ndlich darzustellen."
Elektronik, 11/2003
"Ulrich Hilleringmann ist mit seinem (...) Buch genau dies gelungen: die komplexe und umfangreiche Materie pr?zise und doch stets verst?ndlich darzustellen."
Elektronik, 11/2003
Година:
2004
Издание:
4, durchges. und erg. Aufl.
Издателство:
Vieweg+Teubner Verlag
Език:
german
Страници:
338
ISBN 10:
3519301490
ISBN 13:
9783519301493
Серия:
Teubner Studienskripten Soziologie
Файл:
PDF, 9.61 MB
IPFS:
,
german, 2004
Изтеглянето на тази книга не е възможно поради жалба от притежателя на авторските права